Способ исследования устойчивости систем со встроенным искусственным интеллектом, использующихся на промышленных объектах, к состязательным атакам
DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-44-52
DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-44-52
Аннотация: Представлен способ исследования устойчивости систем со встроенным искусственным интеллектом (ИИ), использующихся на промышленных объектах, к состязательным атакам. Исследовано влияние состязательных атак на показатели работы систем, использующих модели машинного обучения (МО). Представлена разработанная обобщенная схема и определены сценарии реализации атак на системы со встроенным ИИ, использующиеся на промышленных объектах. Сформирован комплексный набор показателей, используемых для исследования устойчивости моделей МО, включающий показатели качества набора тестовых данных (MDQ), показатели качества модели МО (MMQ), показатели устойчивости модели к состязательным атакам (MSQ). Способ основан на применении данного комплекса показателей и включает следующие шаги: формирование набора тестовых данных, содержащего чистые образцы; оценка качества набора тестовых данных с использованием показателей MMQ; определение актуальных методов реализации состязательных атак; генерация состязательных примеров и формирование набора тестовых данных для оценки устойчивости модели, содержащего сгенерированные состязательные образцы; оценка качества сформированного набора тестовых данных с использованием показателей MDQ; оценка качества модели МО с использованием показателей MMQ; оценка устойчивости модели с использованием показателей MSQ.
Ключевые слова: кибербезопасность, методы искусственного интеллекта, интеллектуальные производственные системы, состязательные атаки
Сведения о финансировании: Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации, № 2019-0898.
Библиография статьи:
Воробьева А. А. Способ исследования устойчивости систем со встроенным искусственным интеллектом, использующихся на промышленных объектах, к состязательным атакам / А. А. Воробьева // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. – 2023. – Т. 26, № 4. – С. 44–52. DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-44-52
Авторы и правообладатели: