Исследование возможностей применения макета ближнепольного интерференционного микроволнового микроскопа для задач гигроскопии и дефектоскопии

Авторы: Запасной А. С., Беличенко В. П., Мироньчев А. С.

Аннотация: Обсуждается схемное решение ближнепольного интерференционного микроволнового микроскопа – прибора нового типа. Это схемное решение реализовано в виде максимально упрощенного по структуре действующего макета. Результаты тестовых испытаний по выявлению возможностей микроскопа показали, что его целесообразно использовать при решении задач гигроскопии и дефектоскопии, исследовании предметов культурного наследия, а также в медицине.

Ключевые слова: ближнепольная диагностика, интерференционный поток энергии, эванесцентные поля, микроволновый микроскоп, гигроскопия, дефектоскопия

Библиография статьи: Запасной А. С. Исследование возможностей применения макета ближнепольного интерференционного микроволнового микроскопа для задач гигроскопии и дефектоскопии / А. С. Запасной, В. П. Беличенко, А. С. Мироньчев // Доклады ТУСУР. – 2017. – Т. 20, № 4. – С. 17–19. DOI: 10.21293/1818-0442-2017-20-4-17-19