Разработка TEM-камеры для испытаний интегральных схем на электромагнитную совместимость

Авторы: Демаков А. В., Комнатнов М. Е.

Аннотация: Представлены результаты разработки TEM-камеры для испытаний интегральных схем с максимальными габаритами 30×30×5 мм 3 на электромагнитную совместимость в диапазоне частот до 5,2 ГГц. Рассмотрены варианты исполнения TEM-камеры, отличающиеся формой согласующих коаксиально-полосковых переходов. Выполнены электродинамический анализ и параметрическая оптимизация переходов с целью уменьшения максимального значения частотной зависимости |S 11 |. На основе полученных при моделировании частотных зависимостей |S 11 | для дальнейшей разработки выбран вариант, обеспечивающий наилучшее согласование (|S 11 | менее минус 30 дБ). Для проверки сходимости результатов вычислены частотные зависимости |S 11 | с более детальным шагом пространственной дискретизации численными методами матрицы линии передачи и конечных элементов.

Ключевые слова: tem-камера, электромагнитная совместимость, интегральная схема, помехоустойчивость

Библиография статьи: Демаков А. В. Разработка TEM-камеры для испытаний интегральных схем на электромагнитную совместимость / А. В. Демаков, М. Е. Комнатнов // Доклады ТУСУР. – 2018. – Т. 21, № 1. – С. 52–56. DOI: 10.21293/1818-0442-2018-21-1-52-56