Измерительные методики и автоматизированный комплекс для исследования приборов опто- и наноэлектроники

Авторы: Давыдов В. Н., Новиков Д. А.

Аннотация: Определен набор взаимно дополняющих характеристик, а также выбраны реализующие их измерительные методики, используемые для исследования электрических свойств полупро- водниковых приборов и структур. Выбор методик основан на достижении широкого частотного и динамического диапазонов, высокой точности измерений, а также технической простоты реализации методики и возможности ее автоматизации. Приведено описание конструкции и измерительных возможностей разработанного автоматизированного комплекса. Экспериментальные исследования емкостных свойств гетероструктур из InGaN/GaN и шумового напряжения фоторезистора из CdSe подтвердили широкие метрологические возможности и высокую точность измерения параметров полупроводникового прибора.

Ключевые слова: автоматизированный комплекс, метод емкостного делителя, мостовой метод, метод проходного конденсатора, амплитудно-фазовый метод, вольт-фарадная характери- стики, фотопроводимость, шумовое напряжение

Библиография статьи: Давыдов В. Н. Измерительные методики и автоматизированный комплекс для исследования приборов опто- и наноэлектроники / В. Н. Давыдов, Д. А. Новиков // Доклады ТУСУР. – 2015. – № 1(35). – С. 64–74.