Повышение качества продукции посредством использования причинно-следственной диаграммы в комплексе с информационной системой управления полупроводниковым производством

Скачать текст статьи в формате PDF

Авторы: Зыков Д. Д., Матвеев В. В., Нечаев К. А., Карабан В. М.

Аннотация: Предложен способ повышения результативности производства путем повышения качества выпускаемой продукции, который основан на уменьшении влияния человеческого фактора путем внедрения статистических инструментов качества. Рассматриваются причинно-следственная диаграмма (диаграмма Исикавы) и необходимость ее использования в комплексе с информационной системой управления полупроводниковым производством.

Ключевые слова: качество продукции, система управления, полупроводниковое производство, диаграмма исикавы

Библиография статьи: Зыков Д. Д. Повышение качества продукции посредством использования причинно-следственной диаграммы в комплексе с информационной системой управления полупроводниковым производством / Д. Д. Зыков [и др.] // Доклады ТУСУР. – 2013. – № 4(30). – С. 173–176.

Адрес редакции

  634050, г. Томск, пр. Ленина, 40, МК, каб. 310/2

  (3822) 701-582, внутр.: 1456

  journal@tusur.ru

 

Масленников Виктор Николаевич

Ответственный секретарь редакции журнала

  634050, г. Томск, пр. Ленина, 40, МК, каб. 310/2

  (3822) 51-21-21, внутр.: 1460

  vnmas@tusur.ru