Методика оценки уровня излучаемой помехоэмиссии интегральной схемы в ТЕМ-камере при температурном воздействии

Аннотация: Интегральные схемы (ИС), применяемые в радиоэлектронных средствах (РЭС), создают электромагнитное излу-чение, анализ уровня которого проводят при обеспечении электромагнитной совместимости. В реальных услови-ях эксплуатации РЭС подвергаются воздействию температуры, что оказывает влияние на амплитуды и частоты излучаемой помехоэмиссии ИС. Предложены методика и алгоритм измерения уровня излучаемой помехоэмиссии ИС при заданном температурном воздействии, с помощью которых измерен уровень излучаемой помехоэмиссии МК К1986ВЕ91Т в широких диапазонах частот (150 кГц – 1 ГГц) и температур (от –50 до 150 ºС). Показано, что на основной частоте тактирования, вблизи 80 МГц и 2-й гармоники, воздействие температуры не оказывает влия-ние на уровень излучаемой помехоэмиссии МК, а его изменение не превышает ±0,3 дБ. Работа различных блоков МК при увеличении его температуры от –50 до +150 °С снижает на 5,5 дБ максимальный уровень излучаемой помехоэмиссии МК в диапазоне частот 8–27 МГц. Наиболее зависимые от температуры уровни помехоэмиссии наблюдаются до 6-й гармоники частоты тактирования МК и достигают 35,8 дБмкВ, что на 5,7 дБ выше по срав-нению с измеренным уровнем при нормальной температуре.

Ключевые слова: интегральная схема, помехоэмиссия, тем-камера, электромагнитная совместимость

Библиография статьи: Комнатнов М. Е. Методика оценки уровня излучаемой помехоэмиссии интегральной схемы в ТЕМ-камере при температурном воздействии / М. Е. Комнатнов // Доклады ТУСУР. – 2024. – Т. 27, № 3. – С. 30–36. DOI: 10.21293/1818-0442-2024-27-3-30-36