Аннотация: Сообщается о разработке измерительно - вычислительного комплекса, сочетающего высокую точность измерения , гибкость управления с широкими функциональными возможностями , низким энергопотреблением. Применение комплекса в экспериментальных исследованиях электрических свойств полупроводниковых приборов подтвердило его высокие эксплуатационные параметры.
Библиография статьи:
Беляев С. В. Автоматизированный комплекс на базе микрочипа ADuC812 для измерения электрических параметров полупроводников / С. В. Беляев [и др.] // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. – 2005. – № 3(11). – С. 5–11.
Авторы и правообладатели:
—