Автоматизированный комплекс на базе микрочипа ADuC812 для измерения электрических параметров полупроводников

Авторы: Беляев С. В., Давыдов В. Н., Масюков А. Ю., Кохлов А. Л.

Аннотация: Сообщается о разработке измерительно - вычислительного комплекса, сочетающего высокую точность измерения , гибкость управления с широкими функциональными возможностями , низким энергопотреблением. Применение комплекса в экспериментальных исследованиях электрических свойств полупроводниковых приборов подтвердило его высокие эксплуатационные параметры.

Библиография статьи: Беляев С. В. Автоматизированный комплекс на базе микрочипа ADuC812 для измерения электрических параметров полупроводников / С. В. Беляев [и др.] // Доклады ТУСУР. – 2005. – № 3(11). – С. 5–11.