Метод определения теплопроводности диэлектрических слоёв для светодиодных матриц видимого диапазона

Авторы: Воропаев М. В., Каримбаев Д. Д., Хотненок Ю. А., Коханенко А. П.

Аннотация: Предложен метод определения теплопроводности диэлектрического слоя в печатных платах для светодиодных матриц. Приведены результаты расчётов и измерения теплового сопротивления СИД (светоизлучающий диод) кристаллов на печатной плате в зависимости от типа диэлектрика и площади металлизации.

Ключевые слова: эффект растекания тепла, тепловое сопротивление, тепловое сопротивление растекания тепла, теплопроводность

Библиография статьи: Воропаев М. В. Метод определения теплопроводности диэлектрических слоёв для светодиодных матриц видимого диапазона / М. В. Воропаев [и др.] // Доклады ТУСУР. – 2011. – № 2(24). – Ч. 2. – С. 224–227.