☷
- О ТУСУРе
- Абитуриентам
-
Студентам
- Первокурсникам
- Расписание занятий
- Система дистанционного обучения
- Научно-образовательный портал
- Библиотека
- Групповое проектное обучение
- Журнал посещаемости
- Журнал успеваемости
- Клубы по интересам
- Спорт в ТУСУРе
- Профком студентов
- Содействие трудоустройству
- Облачное хранилище ТУСУРа
- Поддержка студенческих семей
- Поддержка участников СВО и их детей
- Многофункциональный центр
- Аспирантам
-
Сотрудникам
- Телефонный справочник
- Расписание занятий
- Система дистанционного обучения
- Научно-образовательный портал
- Библиотека
- Журнал посещаемости
- Журнал успеваемости
- Генератор рабочих программ
- Генератор ОПОП
- Генератор ИПРП
- Показатели эффективности труда ППС
- Спорт в ТУСУРе
- Профком сотрудников
- Облачное хранилище ТУСУРа
- Выпускникам
- Партнёрам
Аннотация: Предлагается информационно-измерительная система контроля индивидуальных свойств микроэлектронных устройств. Система реализована на основе метода критических питающих напряжений.
Ключевые слова: критические питающие напряжения, контроль качества бис, частотная характеристика
Авторы и правообладатели:
—
Библиография статьи:
Номоконова Н. Н. Принятие решения по результатам контроля микроэлектронных устройств / Н. Н. Номоконова, Д. С. Пивоваров, Н. А. Алмина // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. – 2010. – № 2(22). – Ч. 2. – С. 36–37.
-2025-1.jpg)
Адрес редакции
Подписка на обновления
