Принятие решения по результатам контроля микроэлектронных устройств

Авторы: Номоконова Н. Н., Пивоваров Д. С., Алмина Н. А.

Аннотация: Предлагается информационно-измерительная система контроля индивидуальных свойств микроэлектронных устройств. Система реализована на основе метода критических питающих напряжений.

Ключевые слова: критические питающие напряжения, контроль качества бис, частотная характеристика

Библиография статьи: Номоконова Н. Н. Принятие решения по результатам контроля микроэлектронных устройств / Н. Н. Номоконова, Д. С. Пивоваров, Н. А. Алмина // Доклады ТУСУР. – 2010. – № 2(22). – Ч. 2. – С. 36–37.