Вычислительная диагностика трещин и отслоений с использованием томографического подхода при наличии эталона исследуемого объекта
DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-95-101
DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-95-101
Аннотация: Рассматривается развитие подхода для решения задач промышленной дефектоскопии, использующее информацию об эталоне исследуемого объекта. Предлагаемый алгоритм томографической реконструкции основан на использовании априорной информации об эталонном образце. В случае промышленной томографии мы имеем дело с типовым изделием, для которого заранее известна вся его структура, следовательно, целесообразно использовать эти данные в качестве априорной информации при решении обратной задачи томографической реконструкции. Приведены результаты численных экспериментов для упрощенной модели изделия. Предложенный алгоритм демонстрирует свою эффективность в ситуации, когда классический алгоритм уже не справляется. Сделаны выводы о перспективности использования данного подхода при диагностике дефектов типа отслоений и трещин в промышленных изделиях.
Ключевые слова: компьютерная томография, дефектоскопия, томография области интереса, эталонный образец, вычислительно-эвристический алгоритм
Сведения о финансировании: Работа выполнена при финансовой поддержке Новосибирского государственного технического университета.
Библиография статьи:
Пешков А. В. Вычислительная диагностика трещин и отслоений с использованием томографического подхода при наличии эталона исследуемого объекта / А. В. Пешков // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. – 2023. – Т. 26, № 4. – С. 95–101. DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-95-101
Авторы и правообладатели: