Вычислительная диагностика трещин и отслоений с использованием томографического подхода при наличии эталона исследуемого объекта

Аннотация: Рассматривается развитие подхода для решения задач промышленной дефектоскопии, использующее информа-цию об эталоне исследуемого объекта. Предлагаемый алгоритм томографической реконструкции основан на ис-пользовании априорной информации об эталонном образце. В случае промышленной томографии мы имеем дело с типовым изделием, для которого заранее известна вся его структура, следовательно, целесообразно использо-вать эти данные в качестве априорной информации при решении обратной задачи томографической реконструк-ции. Приведены результаты численных экспериментов для упрощенной модели изделия. Предложенный алгоритм демонстрирует свою эффективность в ситуации, когда классический алгоритм уже не справляется. Сделаны вы-воды о перспективности использования данного подхода при диагностике дефектов типа отслоений и трещин в промышленных изделиях.

Ключевые слова: компьютерная томография, дефектоскопия, томография области интереса, эталонный образец, вычислительно-эвристический алгоритм

Библиография статьи: Пешков А. В. Вычислительная диагностика трещин и отслоений с использованием томографического подхода при наличии эталона исследуемого объекта / А. В. Пешков // Доклады ТУСУР. – 2023. – Т. 26, № 4. – С. 95–101. DOI: 10.21293/1818-0442-2023-26-4-95-101