Аннотация: Раствор-расплавным методом выращены высокоомные кристаллы KTP. Исследованы электропроводность и электрооптические коэффициенты выращенных кристаллов. Измеренная электропроводность составляла σ = 2·10^–12 Ом^–1см^–1.
Ключевые слова: кристаллы ktp, высокоомный ktp, электропроводность, электрооптический коэффициент
Библиография статьи:
Паргачёв И. А. Получение и электрофизические свойства кристаллов GTR-KTP / И. А. Паргачёв [и др.] // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. – 2011. – № 2(24). – Ч. 2. – С. 119–123.
Авторы и правообладатели:
—